光学探测2

地基F-P大气风场测量仪

功能简介


地基F-P测风干涉仪可用于探测250km处中高层大气风场,研究中高层大气空气动力学特性。该仪器探测通道为OI630nm、557.7nm和892nm,测风精度为10m/s