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光学探测2
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光学探测2
地基F-P大气风场测量仪
功能简介
地基F-P测风干涉仪可用于探测250km处中高层大气风场,研究中高层大气空气动力学特性。该仪器探测通道为OI630nm、557.7nm和892nm,测风精度为10m/s
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